电子产品格量题目的最佳办理方案
————数字集成电路参数测试
电子产品的质量、牢靠性及波动性（电特征）怎样，一样平常说因由两个要素所制约：1抗搅扰才能（噪声容限），2.温度顺应范畴。
而电子产品中所选用的数字集成电路（以下简称IC）的品格怎样对上述2个要素，起着决议性的作用！
关于IC参数测试仪与一样平常功效测试仪的差别点，就在于它在举行功效测试时，同时举行直流参数的定量测试。
一． 输入逻辑电平测试
一样平常数字逻辑用“1”、“0”来表现高、低电平。这在所谓“功效测试仪”中不克不及失掉定量的剖析。
K8凯发在测试历程中把IC的输入电平（TTL）界说为：小于0.4V为：“0”、高于3.5V界说为：“1”，而不是一样平常TTL逻辑界说：“0”〈0.7V、“1”〉3.0V。按上述界说测试IC输入逻辑电平常，还必需施加输入负载电流，以满意用户利用条件（空载测试是有效测试！）。
输入电平加载测试的目标，便是为理解决开篇所述题目：进步IC的抗
搅扰才能（噪声容限）及IC具有更宽的事情温度范畴。
为什么“0”电平小于0.4V 及“1”电平高于3.5V的加载测试，比功效测试能更无效的办理上述题目呢？上面以TTL数字集成电路 IC，“0”电平测试为例阐明。
TTL IC 由很多（硅）三极管组成。而三极管的事情形态由基极与发射极之间（BE结）的导通电压Vbe及作用在BE结的电压Vbe所决议。一样平常Vbe为0.6~0.7V ，当Vbe大于这个值三极管将会导通。
1． 严厉区分“0”、“1”电平
很分明只需Vb?R0.7V 三极管曾经开端导通，由于“1”电平也异样大于0.7V （3.0V），此时 “0”、“1”电平无法区分！IC将处于不波动事情形态。因而“0”电平测试选取0.4V加载测试更牢靠。
2． 进步抗电磁搅扰才能
IC加载测试“0”电平小于0.4V测试经过，它具有0.3V（0.7V- 0.4V=0.3V）的噪声容限。因而具有更强的吸取、克制搅扰脉冲及电磁辐射的才能。IC的输入特征：输入电流随输入“0”电平进步以指数方法增长；即当输入电流的增长很多时，输入“0”电平电压不会进步几多，不会凌驾0.3V的噪声容限。
3． 减小电源纹波的影响
任何电子电路中的电源（VCC）、地线（GND）都市有纹波（发抖）。一样平常电子产品，纹波将控制在0.3V（峰-峰值）之内。
在实践的电路中，纹波将会叠加到IC的输入电平上发生不波动事情形态。而选取0.4V加载测试，即使叠加上纹波也不会使得“0”电平?R0.7V！
4．减小温度变革对IC的影响
温度上升1℃，三极管BE结的导通电压Vbe将降落0.002V。假如事情温度由10℃上升到50℃、此时作用在BE结的电压Vbe稳定，那么三极管就大概由停止形态酿成导通形态。选取0.4V加载测试经过的IC显然具有更宽的事情温度范畴。
关于“1”电平K8凯发选取3.5V加载测试，其作用与“0” 电平0.4V加载测试相似，不再赘述。
二． 电流测试
1． 输入负载电流测试
IC输入电平在空载或负载较小时，“0”电平靠近0电位；高电平靠近电源电压。一旦输入负载加大，IC的输入“0”、“1”电平会有较大的反偏向变革：“0”、电平进步、“1”电平低落。因而IC测试中负载电流测试极为紧张。
2． 三态（高阻形态）泄电流测试
三态为IC数字逻辑中的一种特别形态。对此形态的泄电流测试，为无效测试。假如IC此三态下存在泄电流，那么关于电子体系将发生极为严峻的结果：泄电流—?温度↑—?泄电流↑—?温度↑—?……↑
终极体系将瓦解！
比方：K8凯发在给某单元提供IC测试办理方案时，发明该单元消费的一台电子设置装备摆设，开机事情正常，但2小时之后体系瘫痪，30分钟可以重新开机事情。2小时之后体系再次瘫痪，……屡屡云云。经查体系总线上一片74LS245三态泄电流较大，改换一片测试经过的74LS245后，设置装备摆设事情正常。
三态是数字IC真值表中罕见的功效，但功效测试仪意外此功效。
3． 输出电流测试
很多数字逻辑单位的堆砌，组成了数字电路体系。若此中某局部出
现妨碍，很难判别是上级IC的输入端有题目，照旧本级IC的输出端有题目。输出真个题目，通常是输出电流或输出泄电流不正常。这些题目将发生招致与三态泄电流相似的恶果，并且将使体系高温事情、呈现电磁搅扰时体系事情不正常！
为理解决上述题目、改进体系高温事情效能。必需测试IC输出电流。
4． 交织泄电流测试
IC输出端交织泄电流测试的目标：办理统一IC芯片中，差别的输出
端之间的互相影响题目。这个题目将招致，体系在温度变革较大时、体系呈现电磁搅扰时，事情不正常！
三． 电子产品高温事情题目
74系列IC的事情情况温度为0—70℃。74系列IC有大概在0℃以下正常事情吗？答复是一定的！但必需对IC举行更严厉的直流参数测试、挑选。颠末挑选测试经过的IC，通常具有更高的输入负载才能，更小的输出能耗。因此由此IC组成的电子设置装备摆设，能在很低的温度下事情。
K8凯发提供的测试办理方案，使得某种事情在?25℃电子产品中，利用了很多74系列IC。
四． 数字IC测试的无效性
数字IC的功效测试仅仅测试IC的一局部输入功效（相似于“三态”、“OC”功效不克不及测试），更不克不及完成上述的各项直流参数测试。可以以为：所谓数字IC的功效测试，关于进步电子产品的质量，没有任何协助，属于有效测试！
只要完成输出、输入、电流、电压、功耗等等各项直流参数、且完玉成部真值表功效测试，才是绝对完备的数字IC测试。有助于电子产品的质量。
国际数字集成电路参数测试仪的典范代表是Simi-100。
五． 测试本钱剖析
集成电路（IC）测试陪同着集成电路的开展而开展。集成电路的测试，尤其是进厂的查验、测试对其使用也是非常须要的，图1表现动身现每妨碍检出费与检出阶段的干系。从图可以看出，产品进厂查验（器件级测试）每妨碍检出用度为0.3美元，在印制电路板上（板级）测试则检出费进步一个数目级，体系级及维修阶段测试，其每妨碍检出用度辨别进步2个和3个数目级。可见，集成电路进厂的测试不但对确保体系牢靠性有紧张作用，并且对低落体系本钱意义也非常严重。
Simi-100 数字IC多值逻辑测试仪，是经过总结外洋同类产品的好处,本着适用、利便、测试精准的主旨，面向国际外市场推出的数字IC参数测试仪（而且在不停地美满之中）。该仪器分外合适，零件消费厂商及别的IC使用厂家的器件级进厂测试。现在，对中小范围数字IC举行复杂的逻辑功效测试，已不克不及满意IC用户的测试需求。Simi-100 数字IC多值逻辑测试仪，使用首创的多值参数比力法，可以对数字IC举行功效测试并同时完成各项直流参数测试。Simi-100完全可以满意数字IC用户的直流参数测试要求。Simi-100是一种功能适用、操纵复杂、测试可信度高、本钱昂贵的良好测试仪器。它具以下次要特点。
1． 测试电源拉偏形态下，输入电平加载测试。
2． 对输入电流、输入电压直流参数举行测试的同时，完成真值表功效测试。
3． 真值表功效测试的同时，完成“三态”（高阻形态）泄电流测试。
4． 对IC输出电流、功耗电流测试。
5． 输出泄电流及交织泄电流测试。
6． 测试历程无须人工干涉。
7． 用户可以自选测试形式，利用利便、操纵简便。
8． 可主动辨认74系列中的CMOS器件。
9． 可以查找未知IC的型号。
现在Simi-100的作用单元已普及通讯、电子仪器、电力电子、办公主动化设置装备摆设、盘算机零件、交通电子、消防迷信东西等各个范畴，并获用户分歧好评。