数字集成电路功效测试仪存在的严峻题目
1985年陪同双列直插数字集成电路在国际的遍及使用，集成电路（下称IC）的测试题目渐渐表现出来。苹果机数字集成电路测试（下称“数字IC测试”）卡，与苹果机一同组成所谓的“团体测试仪”，是这临时期最具代表性的数字IC功效测试仪之一。实在它完满是一种为了共同苹果机贩卖而制造的“专业测试”仪。它的呈现使得方案经济体制下，很多盼望购置盘算机的单元，找到了购置盘算机的捏词；但真正盼望对数字IC举行无效测试的单元，很快发明此类IC功效测试仪毫无利用代价！但是，此种“专业测试”的数字IC测试仪仍然传承至今，数字IC功效测试仪代价昂贵是其得以传承的次要缘故原由。
数字IC（直流参数）测试仪一样平常应该具有三个根本局部：测试图形产生器、管脚电路及种种测试所必备的测试基准源。它的特点是测试IC输出、输入真个电压、电流及电源端功耗电流，同时完成数字IC的真值表功效测试。
数字IC功效测试仪的特点是：对数字IC仅仅举行真值表功效测试。由于数字IC功效测试仪，不具有直流参数测试的底子（无测试基准源等），因而只能举行一些复杂的逻辑测试，即IC输入真个“0”、“1”测试，而“0”、“1”怎样界说？当负载电流变革时“0”、“1”的变革范畴能否公道？这些都无法确定，而这是IC测试者所体贴的。
另一方面IC是由输出、输入及电源端构成，此三类端口在利用历程中是相互制约的互相影响的。由于功效测试仪不克不及对IC输出端及电源端测试（意外直流试参数），因而功效测试将发生严峻题目。上面就上述三类端口的测试，展现数字IC功效测试仪，测试后果中存在的严峻题目。
1、 数字IC输出真个须要测试应包罗：输出短路电流及泄电流的测试。由于数字IC功效测试仪无法举行无效的直流参数测试，因而也就不克不及对输出端举行无效的测试。真值表是表征数字IC输入与输出对应逻辑干系的形态表，它的使用条件应该是输出端口残缺无损。也便是说在输出端残缺无损的状况下，可以使用真值表的逻辑干系对输入端举行功效（“0”、“1”）判别。 可以卖力任地说：某些范例数字IC假如输出端破坏，在功效测试时会呈现题目。 好比一切以与门为输出真个数字IC相与干系的输出端之间短路，那么数字IC功效测试仪对其测试的后果也会是“经过”（PASS）。好比：与门、与非门及与门输出的计数器等等。
比方：74LS30 是常用的八输出端与非门，将其八个输出端恣意短路测试后果也是“经过”（测试有效！）。读者可以试想短路其恣意2个输出端，并画出其真值表（留意：短路的2个输出端之间“0”无效，即一个为“0”另一个也为“0”）。可以看到真值表表现，它与输出端不短路的74LS30没有区别，这便是功效测试仪对其测试有效的缘故原由。 固然这是为了阐明题目所假定的一种极度的征象，实在输出泄电流过大也会对IC的利用有影响，而无效的测试办法便是对输出真个输出泄电流举行测试（必需测试直流参数）。各人熟习的SIMI-100测试仪是数字IC参数测试，假如用其测试74LS30 并在测试时，用51K电阻跨接恣意的2个输出端，那么测试后果会表现“输出生效”。测试不会经过的缘故原由是由于SIMI-100 对IC输出端举行了泄电流测试。
2、 数字IC的输入端除了“0”、“1”两种形态以外，另有第三种形态：高阻形态，通称“三态”。“三态”在真值内外用“Z”表现。对“三态”无效的测试是举行泄电流测试。 数字IC功效测试仪不克不及测试直流参数，因而不克不及对一切输入有“三态”功效的数字IC举行无效的测试！一样平常数字IC功效测试仪的被测输入端与电源之直接有电阻，它是把“Z”形态看成“1”形态来处置的。如许处置也会发生严峻的题目！ 比方：74LS125 为4总线逻辑图见图1。74LS32 为四-2输出或门逻辑图见图2。表1为74LS125 的真值表，表2为74LS32的真值表。
A B O A B O
0 1 1 0 1 1
1 0 Z 1 0 1
1 1 Z 1 1 1
表1 表2
假如将74LS125 真值表（表1）里的“Z”改成“ 实践上数字IC功效测试仪正是如许做的。读者可以用此类仪器，在74LS125测试形态下测试74LS32，会发明测试后果是经过（PASS），反之在74LS32测试形态下测试74LS125，会发明测试后果也是经过（PASS）。而这两种IC芯片毫无相反之处！缘故原由就在于功效测试仪把“Z”看成“1”来处置。显然IC功效测试仪，对输入有“三态”的IC测试有效！ 在SIMI-100仪器上举行上述操纵，就不会呈现这个后果，缘故原由是：SIMI-100对74LS125举行了无效的“三态”泄电流测试。因而相对不会将这两种IC等量齐观[děng liàng qí guān]。
3、 由于数字IC功效测试仪不克不及举行直流参数测试，因而无法举行电源端功耗电流测试。 多功效相反但直流参数（芯片质料差别）不相反的数字IC，是不克不及交换利用的。好比COMS与TTL 芯片，通常在定型的电子产品中是不克不及交换利用的。 比方：74LS00 与74HC00 电源端功耗电流相差甚大，在实践使用中是不克不及交换利用的，而意外试电源端功耗电流就难以能辨认这两种IC。 上述种种题目只是数字IC功效测试仪测试题目的一局部，另有比方：“OC”也是一种功效，“OC”门怎样测试？功效测试仪能否也将管脚相反的“OC”门与非“OC”门殽杂了呢？有些计数器的输出端也是输入端，对此类端口怎样测试？双向总线怎样测试？等等。在此笔者不做探求。 别的IC测试仪有具有上面两个根本特性：
1、 IC测试仪的测试（插座）管脚，除了正在测试以外的形态，应该维持高阻形态，由于很多被测试的IC是不容许带电插拔，不然会形成IC的破坏。
2、 IC测试仪应该包管被测试的IC芯片即使完全破坏，也不该该破坏测试仪。 由于数字IC功效测试仪的管脚电路本钱昂贵，因而一些此类测试仪，无法包管这两个根本要求。 由于数字IC功效测试仪的代价昂贵，因而被一些必要装备测试仪（如：必要经过某种认证），但又不实践利用（仅仅是部署）的单元所推销。此类功效测试仪对电子产品的质量保证毫偶然义！笔者以为用数字IC功效测试仪测试IC芯片，不如意外！他会给IC利用者带来新的贫苦。
有关数字IC无效的参数测试请拜见《电子产品格量题目的最佳办理方案—数字集成电路参数测试》一文。 笔者尽力发起利用IC测试仪的企业；发起将IC测试仪用于讲授实行的高校：选用IC参数测试仪。 数字IC功效测试仪并未在产品称号中标明“功效测试仪”的字样，还请测试仪的利用者细心鉴别。
笔者在此提供读者选择IC（参数）测试仪的两个复杂的尺度：
1、 单台仪器的反复性要好：用统一台仪器测试统一个IC芯片反复性要好。
2、 多台仪器的分歧性要好：用多台统一机型的仪器，测试统一IC芯片，后果要根本分歧。
对上述所讨论的题目感兴味的读者可与我交换。